射頻放大器測(cè)試系統(tǒng)中的電源噪聲

噪聲是包括電源在內(nèi)的測(cè)試系統(tǒng)中多余卻無(wú)法避免的問(wèn)題。一部分的噪聲總是由電源（除了電池是低噪聲的電源）產(chǎn)生或傳播的。然而外部噪聲對(duì)電源的輸出品質(zhì)有著較大的影響。所以，電源噪聲需要足夠低，以免干擾相鄰設(shè)備或測(cè)試結(jié)果。

這期介紹如何減輕測(cè)試系統(tǒng)中的電源噪聲。在之前的兩期介紹了一下DC/DC轉(zhuǎn)換器測(cè)試系統(tǒng)與測(cè)量系統(tǒng)中的電源噪聲。這期介紹一下射頻放大器測(cè)試系統(tǒng)中的電源噪聲。

射頻放大器測(cè)試系統(tǒng)中的電源噪聲

下圖1顯示為噪聲控制測(cè)試系統(tǒng)，DUT為射頻放大器。來(lái)自射頻信號(hào)發(fā)生器的射頻信號(hào)由射頻放大器進(jìn)行放大。射頻放大器的輸出由頻分析儀進(jìn)行測(cè)量。射頻放大器為小信號(hào)調(diào)諧放大器，可放大射頻下的小信號(hào)。射頻放大器的機(jī)箱位于GND電位。因此，由共膜噪聲引起的外部磁通應(yīng)該遠(yuǎn)離射頻放大器測(cè)量。磁通量可在電源的輸出周圍產(chǎn)生，也可從機(jī)箱或電源線產(chǎn)生。

接下來(lái)就看看外部磁通量是如何影響射頻放大器測(cè)量以及如何處理噪聲的。

為何外部磁通量會(huì)影響到射頻信號(hào)

下圖2顯示了射頻信號(hào)發(fā)生器輸出連接器通過(guò)同軸電纜連接至射頻放大器輸入端口。在該系統(tǒng)中，接地回路顯示明顯，所以如果由共膜噪聲引起的外部磁通通過(guò)該回路，那么噪聲電流（Iw）將會(huì)流經(jīng)同軸電纜的外導(dǎo)體。因此產(chǎn)生了噪聲電壓（Vw）。Vw是通過(guò)射頻放大器的輸入端口被添加至射頻信號(hào)發(fā)生器（RF SG）。射頻同軸電纜在其中心導(dǎo)體處的總阻抗為100Ω。當(dāng)外部磁通通過(guò)這個(gè)回路時(shí)，電流不會(huì)流經(jīng)具有高阻抗的中心導(dǎo)體，所以噪聲電流（Iw）只流經(jīng)同軸電纜的外導(dǎo)體。這些不平衡的電流導(dǎo)致噪聲電壓加至了射頻信號(hào)。

如何減少共膜噪聲

上述的噪聲問(wèn)題是由接地回路所引起的。為了解決這個(gè)問(wèn)題，可如下圖3所示，通過(guò)放置一個(gè)隔離變壓器來(lái)斷開(kāi)接地回路。

另一種解決方案就是將同軸電纜纏繞在環(huán)形鐵芯上，從而阻止電流流過(guò)同軸電纜的外導(dǎo)體。

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